短絡不良の原因解明に向けた試験用軌道回路の開発

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発行物	シンポジウム論文
回	第43回
発行年月	2006年11月
区分	Ⅵ　線路・電気及びその他設備
課題	３．制御システム
論文番号	625
タイトル	短絡不良の原因解明に向けた試験用軌道回路の開発
著者	本多 光一郎（西日本旅客鉄道株式会社）、森 崇（西日本旅客鉄道株式会社）、石井 順（西日本旅客鉄道株式会社）、高重 哲夫（株式会社 ジェイアール総研電気システム）
キーワード	0
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